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Metadados | Descrição | Idioma |
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Autor(es): dc.contributor | Silva, Ladário da | - |
Autor(es): dc.contributor | http://lattes.cnpq.br/3743563498830737 | - |
Autor(es): dc.contributor | Silva, Marcelo Henrique Prado da | - |
Autor(es): dc.contributor | http://lattes.cnpq.br/3027347445652264 | - |
Autor(es): dc.contributor | Vitorazi, Letícia | - |
Autor(es): dc.contributor | http://lattes.cnpq.br/0136656577599009 | - |
Autor(es): dc.contributor | http://lattes.cnpq.br/8365333539003168 | - |
Autor(es): dc.creator | Nunes, Nayara Ferreira | - |
Data de aceite: dc.date.accessioned | 2024-07-11T17:23:23Z | - |
Data de disponibilização: dc.date.available | 2024-07-11T17:23:23Z | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2022-11-09 | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2022-11-09 | - |
Fonte completa do material: dc.identifier | http://app.uff.br/riuff/handle/1/26904 | - |
Fonte: dc.identifier.uri | http://educapes.capes.gov.br/handle/capes/749268 | - |
Descrição: dc.description | Devido à grande variedade de aplicações em diversos setores, o nióbio se tornou um elemento de grande importância para o desenvolvimento tecnológico em áreas estratégicas e o Brasil destacase neste contexto por deter as maiores reservas mundiais. Dentre as principais características desse material, podemos citar a alta resistência à corrosão, devido ao crescimento espontâneo de um filme fino de óxido de nióbio com espessura variando entre 4 e 6 nm sobre a superfície do nióbio metálico em condições atmosféricas. Uma das formas de obtenção de filmes finos, com espessura de forma controlada, é através da oxidação anódica. O presente trabalho tem como objetivo promover, através da técnica de elipsometria, a caracterização de propriedades ópticas para diferentes espessuras de filmes de óxido anódico de nióbio. O estudo é divido nas etapas de preparação metalográfica da superfície, verificação do padrão de superfície por microscopia confocal, caracterização elipsométrica do conjunto nióbio metálico e óxido natural, que será usado como substrato, crescimento dos filmes de óxido anódico de nióbio e, por fim, caracterização elipsométrica destes filmes. Foi verificado que a espessura do filme apresenta uma relação linear com a voltagem aplicada, assim como encontrado em diversos estudos. Após análise dos dados e ajuste entre as curvas medidas e as obtidas por modelagem computacional foram obtidos resultados, para índice de refração e coeficiente de extinção, correspondentes aos encontrados nas literaturas para o óxido de nióbio na sua forma mais estável: Nb2O5. Contudo, não é possível afirmar que o filme seja composto em sua totalidade por esta forma do óxido. | - |
Descrição: dc.description | Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior | - |
Descrição: dc.description | Nowadays, Niobium has many applications in several sectors and it is one of the reasons that it has become one of the most important elements for technological development in strategic areas. Brazil is very relevant in this scenario because it holds the largest reserves in the world. Among the main characteristics of these materials, it is possible to mention the high resistance to corrosion, due to the formation of a spontaneous thin film of niobium oxide in atmospheric conditions, with thickness between 4 and 6mm, on the surface of metallic niobium. One way to obtain these thin films, with controlled thickness, is using anodic oxidation. The objective of this work is to present, through ellipsometry technique, the characterization of the optic characteristics for different thickness of niobium anodic oxide films. The study is divided in metallographic preparation of the surface, inspection of surface standard by confocal microscopy, ellipsometric characterization of the ensemble of metallic niobium and natural oxide (that will be used as substrate), the growth of Niobium anodic oxide film, and in the end the ellipsometric characterization of these films. After that, data analysis for the values of refraction index and extinction coefficient was performed and a good match between the measured curves and the simulated by computer was obtained. The values founded in this work agree with the ones for niobium oxide in the literature for the most stable form: Nb2O5, meanwhile it is not possible to affirm that this film is made only with this oxide. It was also observed that the thickness of the film has a linear relationship with the voltage applied, in the same way it is found in other studies. | - |
Descrição: dc.description | 69 p. | - |
Formato: dc.format | application/pdf | - |
Idioma: dc.language | pt_BR | - |
Direitos: dc.rights | Open Access | - |
Direitos: dc.rights | CC-BY-SA | - |
Palavras-chave: dc.subject | Nióbio | - |
Palavras-chave: dc.subject | Óxido de nióbio | - |
Palavras-chave: dc.subject | Filme anódico | - |
Palavras-chave: dc.subject | Elipsometria | - |
Palavras-chave: dc.subject | Filmes de óxido anódico de nióbio | - |
Palavras-chave: dc.subject | Técnica de elipsometria | - |
Palavras-chave: dc.subject | Engenharia Metalúrgica | - |
Palavras-chave: dc.subject | Produção intelectual | - |
Palavras-chave: dc.subject | Niobium | - |
Palavras-chave: dc.subject | Niobium oxide | - |
Palavras-chave: dc.subject | Anodic film | - |
Palavras-chave: dc.subject | Ellipsometry | - |
Título: dc.title | Caracterização de filmes de óxido de nióbio por elipsometria | - |
Tipo de arquivo: dc.type | Dissertação | - |
Aparece nas coleções: | Repositório Institucional da Universidade Federal Fluminense - RiUFF |
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