Logit and probit models for o-ring failure data

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MetadadosDescriçãoIdioma
Autor(es): dc.creatorGlosemeyer, Darren-
Data de aceite: dc.date.accessioned2019-08-21T19:25:30Z-
Data de disponibilização: dc.date.available2019-08-21T19:25:30Z-
Data de envio: dc.date.issued2009-
Data de envio: dc.date.issued2009-06-15-
Data de envio: dc.date.issued2013-03-21-
Data de envio: dc.date.issued2013-03-21-
Data de envio: dc.date.issued2013-03-21-
Fonte completa do material: dc.identifierhttp://objetoseducacionais2.mec.gov.br/handle/mec/22982-
Fonte: dc.identifier.urihttp://educapes.capes.gov.br/handle/capes/491685-
Descrição: dc.descriptionLogit and probit models are common binomial models for success or failure probabilities. Following the 1986 Challenger shuttle disaster due to a failed O-ring, the impact of air temperature on the the probability of at least one primary O-ring failure was analyzed from data from previous flights using a logit model. The analysis found that the probability of failure increased dramatically as temperature decreased. This Demonstration fits the failure data to logit and probit models and shows the two fits with the data and the difference between the two fitted models at the measured temperatures. Use the buttons to select different forms for the linear predictor. Move the sliders to zoom in and out on temperature ranges-
Descrição: dc.descriptionComponente Curricular::Educação Superior::Ciências Exatas e da Terra::Matemática-
Idioma: dc.languageen-
Publicador: dc.publisherWolfram Demonstration Project-
Relação: dc.relationLogitAndProbitModelsForORingFailureData.nbp-
Direitos: dc.rightsDemonstration freeware using MathematicaPlayer-
???dc.source???: dc.sourcehttp://demonstrations.wolfram.com/LogitAndProbitModelsForORingFailureData/-
Palavras-chave: dc.subjectData analysis-
Palavras-chave: dc.subjectEducação Superior::Ciências Exatas e da Terra::Probabilidade e Estatística::Probabilidade e Estatística Aplicadas-
Título: dc.titleLogit and probit models for o-ring failure data-
Aparece nas coleções:Repositório Institucional - MEC BIOE

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