Dispositivo maciço com extremidade unidimensional para microscopia e espectroscopia óptica de campo próximo

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MetadadosDescriçãoIdioma
Autor(es): dc.creatorVasconcelos, Ado Jório de-
Autor(es): dc.creatorCançado, Luiz Gustavo-
Autor(es): dc.creatorAndrade, Rodrigo Ribeiro de-
Autor(es): dc.creatorVasconcelos, Thiago de Lourenço e-
Autor(es): dc.creatorArchanjo, Bráulio Soares-
Autor(es): dc.creatorAchete, Carlos Alberto-
Autor(es): dc.creatorDuarte, Alex Soares-
Autor(es): dc.creatorCorreia, Ricardo Rego Bordalo-
Autor(es): dc.creatorSchoffen, Júlio Ricardo-
Autor(es): dc.creatorVasconcellos, Marcos Antonio Zen-
Autor(es): dc.creatorSoares, Jenaina Ribeiro-
Autor(es): dc.creatorRodrigues, Wagner Nunes-
Data de aceite: dc.date.accessioned2026-02-09T11:55:35Z-
Data de disponibilização: dc.date.available2026-02-09T11:55:35Z-
Data de envio: dc.date.issued2024-09-17-
Data de envio: dc.date.issued2024-09-17-
Fonte completa do material: dc.identifierhttps://repositorio.ufla.br/handle/1/59416-
Fonte: dc.identifier.urihttp://educapes.capes.gov.br/handle/capes/1150501-
Descrição: dc.descriptionA metéria tratada (Figura 1) é descrita por um dispositivo maciço com extremidade unidimensional, para microscopia e espctroscopia óptica de campo próximo. Este dispositivo compreende uma sonda maciça, podendo esta ser aplicada, preferencialmente, em equipamentos e técnicas de microscopia e espectroscopia, ambas por varredura de sonda. O dispositivo proposto (Figura 1) apresenta dimensões adequadas para o acoplamento com o campo elétrico de luz que propaga preferencialmente na direção normal à superfície a ser analisada. A matéria tratada (Figura 1) apresenta robustez durante o processo de análise superficial, podendo analisar com alta resolução estruturas de dimensões nanométricas.-
Direitos: dc.rightsUniversidade Federal de Minas Gerais-
Direitos: dc.rightsUniversidade Federal do Rio Grande do Sul-
Direitos: dc.rightsInstituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia - INMETRO-
Título: dc.titleDispositivo maciço com extremidade unidimensional para microscopia e espectroscopia óptica de campo próximo-
Aparece nas coleções:Repositório Institucional da Universidade Federal de Lavras (RIUFLA)

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