Sensibilidade a erros em aplicações na arquitetura RISC-V

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MetadadosDescriçãoIdioma
Autor(es): dc.creatorFabrício Filho, João-
Autor(es): dc.creatorFelzmann, Isaías Bittencourt-
Autor(es): dc.creatorWanner, Lucas Francisco-
Data de aceite: dc.date.accessioned2025-08-29T12:08:15Z-
Data de disponibilização: dc.date.available2025-08-29T12:08:15Z-
Data de envio: dc.date.issued2022-09-28-
Data de envio: dc.date.issued4999-
Data de envio: dc.date.issued2022-09-28-
Data de envio: dc.date.issued2020-08-19-
Fonte completa do material: dc.identifierhttp://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/29763-
Fonte completa do material: dc.identifierhttps://doi.org/10.5753/eradsp.2020.16886-
Fonte: dc.identifier.urihttp://educapes.capes.gov.br/handle/capes/1089717-
Descrição: dc.descriptionArquiteturas que implementam o conjunto de instruções RISC-V são adequadas para o contexto de sistemas embarcados. A demanda por menor consumo energético e maior desempenho nesse contexto é crescente, e a aproximação de elementos de memória tem potencial para alcançar ambos os benefícios. Contudo, a sensibilidade a erros de cada aplicação pode impedir a obtenção de maiores benefícios, por meio de quebras de execução ou menor qualidade dos resultados. Neste trabalho, propomos a avaliação da sensibilidade de aplicações a falhas em dados armazenados em memória na arquitetura RISC-V. Expondo toda a memória de dados a um modelo de erro em um simulador, é possível verificar a correlação entre o aumento das quebras de execução e a diminuição da qualidade dos resultados. Para um requisito de qualidade de 90%, as 3 aplicações avaliadas toleraram diferentes níveis de aproximação em escala logarítmica, chegando na ordem da taxa de erro de 10−7.-
Formato: dc.formatapplication/pdf-
Idioma: dc.languagept_BR-
Publicador: dc.publisherCampo Mourao-
Publicador: dc.publisherBrasil-
Relação: dc.relationESCOLA REGIONAL DE ALTO DESEMPENHO DE SÃO PAULO-
Relação: dc.relationhttps://sol.sbc.org.br/index.php/eradsp/article/view/16886-
Direitos: dc.rightsembargoedAccess-
Direitos: dc.rightshttp://cradsp.sbc.org.br/eradsp/2020/submissao.html-
Palavras-chave: dc.subjectSistemas embarcados (Computadores)-
Palavras-chave: dc.subjectEnergia - Consumo-
Palavras-chave: dc.subjectGerenciamento de memória (Computação)-
Palavras-chave: dc.subjectEmbedded computer systems-
Palavras-chave: dc.subjectEnergy consumption-
Palavras-chave: dc.subjectMemory Management (Computer science)-
Palavras-chave: dc.subjectCNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::CIENCIA DA COMPUTACAO-
Título: dc.titleSensibilidade a erros em aplicações na arquitetura RISC-V-
Tipo de arquivo: dc.typeaula digital-
Aparece nas coleções:Repositorio Institucional da UTFPR - RIUT

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