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Metadados | Descrição | Idioma |
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Autor(es): dc.contributor | Hummelgen, Ivo Alexandre, 1963- | - |
Autor(es): dc.contributor | Universidade Federal do Paraná. Setor de Ciências Exatas. Programa de Pós-Graduação em Física | - |
Autor(es): dc.creator | Arias, Ana Claudia | - |
Data de aceite: dc.date.accessioned | 2025-09-01T11:10:33Z | - |
Data de disponibilização: dc.date.available | 2025-09-01T11:10:33Z | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2025-01-22 | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2025-01-22 | - |
Data de envio: dc.date.issued | 1997 | - |
Fonte completa do material: dc.identifier | https://hdl.handle.net/1884/44205 | - |
Fonte: dc.identifier.uri | http://educapes.capes.gov.br/handle/1884/44205 | - |
Descrição: dc.description | Orientador: Ivo Alexandre Hummelgen | - |
Descrição: dc.description | Dissertação (mestrado) - Universidade Federal do Paraná, Setor de Ciências Exatas, Programa de Pós-Graduação em Física | - |
Descrição: dc.description | Resumo: Nesta dissertação apresenta-se a caracterização das propriedades elétricas e ópticas de filmes finos de Oxido de Estanho ( TO ), bem como as técnicas utilizadas nessa caracterização. Os filmes de TO são utilizados como contato injetor de elétrons e buracos em diodos emissores de luz (LEDs) orgânicos, nos quais a camada ativa emissora de luz e constituída por um polímero semicondutor, PPV ( poli p-fenileno vinileno). Faz-se uma analise qualitativa do processo de injeção de cargas na interface TO/PPV, utilizando-se uma analogia com junções isolante/semicondutor conhecidas. Verifica-se que a injeção de elétrons e mais eficiente que a injeção de buracos na interface TO/PPV. | - |
Descrição: dc.description | Abstract: In this dissertation the characterization of electrical and optical properties of tin oxide thin films (TO) is presented , as well as the techniques used in this characterization. The TO films are used as electron and hole charge injection contacts of organic light emitting diodes (LEDs). The electroluminescent polymer layer is constituted by PPV (Poly p-phenylene vinylene) in its pristine form. Using an analogy with known Insulator/Semiconductor junctions qualitative analysis of the charge injection at the TO/PPV interface is made. It is verified that electron injection presents higher efficiency than hole injection in the TO/PPV interface. | - |
Formato: dc.format | 80f. : grafs. ; 30cm. | - |
Formato: dc.format | application/pdf | - |
Formato: dc.format | application/pdf | - |
Relação: dc.relation | Disponível em formato digital | - |
Palavras-chave: dc.subject | Filmes finos - Propriedades elétricas | - |
Palavras-chave: dc.subject | Filmes finos - Propriedades ópticas | - |
Palavras-chave: dc.subject | Oxido de estanho | - |
Palavras-chave: dc.subject | Polimeros condutores | - |
Palavras-chave: dc.subject | Semicondutores de oxido metalico | - |
Palavras-chave: dc.subject | Física | - |
Título: dc.title | Caracterização de filmes finos de óxido de estanho e sua utilização em diodos emissores de luz orgânicos | - |
Tipo de arquivo: dc.type | livro digital | - |
Aparece nas coleções: | Repositório Institucional - Rede Paraná Acervo |
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