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Metadados | Descrição | Idioma |
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Autor(es): dc.contributor | National Institute for Space Research (INPE) | - |
Autor(es): dc.contributor | Universidade Estadual Paulista (UNESP) | - |
Autor(es): dc.creator | Vieira, R. A. | - |
Autor(es): dc.creator | Nono, M. C.A. | - |
Autor(es): dc.creator | Cruz, N. C. | - |
Data de aceite: dc.date.accessioned | 2025-08-21T21:36:28Z | - |
Data de disponibilização: dc.date.available | 2025-08-21T21:36:28Z | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2022-04-28 | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2022-04-28 | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2002-08-15 | - |
Fonte completa do material: dc.identifier | http://dx.doi.org/10.1002/1521-3951(200207)232:1<116 | - |
Fonte completa do material: dc.identifier | http://hdl.handle.net/11449/224251 | - |
Fonte: dc.identifier.uri | http://educapes.capes.gov.br/handle/11449/224251 | - |
Descrição: dc.description | The results of nanohardness measurements at a film surface and film-substrate interface are presented and discussed. An electron beam device was used to deposit a Ti film on a 304 stainless steel (304 SS) substrate. The diluted interface was obtained by thermal activated atomic diffusion. The Ti film and Ti film-304 SS interface were analyzed by energy dispersive spectrometry and were observed using atomic force microscopy. The nanohardness of the Ti film-304 SS system was measured by a nanoindentation technique. The results showed the Ti film-304 SS interface had a higher hardness value than the Ti film and 304 SS substrate. The Ti film surface had a lower hardness due to the presence of a TiO2 thin layer. | - |
Descrição: dc.description | Associated Laboratory for Sensors and Materials (LAS) National Institute for Space Research (INPE), Sao Jose dos Campos, SP | - |
Descrição: dc.description | Physics and Chemistry Department (DFQ) FEG-UNESP, Guaratinguetá, SP | - |
Descrição: dc.description | Physics and Chemistry Department (DFQ) FEG-UNESP, Guaratinguetá, SP | - |
Formato: dc.format | 116-120 | - |
Idioma: dc.language | en | - |
Relação: dc.relation | Physica Status Solidi (B) Basic Research | - |
???dc.source???: dc.source | Scopus | - |
Título: dc.title | Nanohardness of a Ti thin film and its interface deposited by an electron beam on a 304 SS substrate | - |
Tipo de arquivo: dc.type | aula digital | - |
Aparece nas coleções: | Repositório Institucional - Unesp |
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