Abnormal resistive switching in electrodeposited Prussian White thin films

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Autor(es): dc.contributorUniversidade Federal do Rio Grande do Sul-
Autor(es): dc.contributorUniversidade Federal de Santa Catarina (UFSC)-
Autor(es): dc.contributorCentre of Physics of Minho and Porto Universities (CF-UM-UP)-
Autor(es): dc.contributorUniversidade Estadual Paulista (UNESP)-
Autor(es): dc.contributorFaculty of Physical Engineering/Computer Sciences-
Autor(es): dc.creatorFaita, F. L.-
Autor(es): dc.creatorAvila, L. B.-
Autor(es): dc.creatorSilva, J. P.B.-
Autor(es): dc.creatorBoratto, M. H.-
Autor(es): dc.creatorCid, C.C. Plá-
Autor(es): dc.creatorGraeff, C. F.O.-
Autor(es): dc.creatorGomes, M. J.M.-
Autor(es): dc.creatorMüller, C. K.-
Autor(es): dc.creatorPasa, A. A.-
Data de aceite: dc.date.accessioned2025-08-21T20:44:56Z-
Data de disponibilização: dc.date.available2025-08-21T20:44:56Z-
Data de envio: dc.date.issued2022-04-28-
Data de envio: dc.date.issued2022-04-28-
Data de envio: dc.date.issued2022-03-10-
Fonte completa do material: dc.identifierhttp://dx.doi.org/10.1016/j.jallcom.2021.162971-
Fonte completa do material: dc.identifierhttp://hdl.handle.net/11449/222973-
Fonte: dc.identifier.urihttp://educapes.capes.gov.br/handle/11449/222973-
Descrição: dc.descriptionPrussian White (PW) layers were deposited on Au/Cr/Si substrates by electrodeposition and characterized by different techniques. Scanning electron microscopy (SEM) images and Raman mapping reveal a uniform and homogeneous deposit while scanning transmission electron microscopy (STEM) images disclose the grain boundary pattern and the thickness of 300 nm of the PW layer. Resistive switching (RS) effect with an ON/OFF ratio of about 102 was observed. The RS mechanism was investigated from the log-log current-voltage plots. Ionic conduction was observed with an activation energy of 0.4 eV that could be associated with potassium ions as possible charge carriers at the grain boundaries. The endurance characteristics were investigated and a stable abnormal RS was observed for consecutive 500 cycles. Moreover, the retention was also evaluated and the high resistive state (HRS) and low resistive state (LRS) were stable up to 1000 s.-
Descrição: dc.descriptionConselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq)-
Descrição: dc.descriptionFinanciadora de Estudos e Projetos-
Descrição: dc.descriptionCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)-
Descrição: dc.descriptionFundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)-
Descrição: dc.descriptionDeutscher Akademischer Austauschdienst-
Descrição: dc.descriptionInstituto de Física Universidade Federal do Rio Grande do Sul-
Descrição: dc.descriptionDepartamento de Física Universidade Federal de Santa Catarina-
Descrição: dc.descriptionCentre of Physics of Minho and Porto Universities (CF-UM-UP) Campus de Gualtar-
Descrição: dc.descriptionSão Paulo State University (UNESP) School of Sciences POSMAT - Post-Graduate Program in Materials Science and Technology-
Descrição: dc.descriptionUniversity of Applied Sciences Zwickau Faculty of Physical Engineering/Computer Sciences-
Descrição: dc.descriptionSão Paulo State University (UNESP) School of Sciences POSMAT - Post-Graduate Program in Materials Science and Technology-
Descrição: dc.descriptionCAPES: 001-
Descrição: dc.descriptionFAPESP: 2013/07296-
Descrição: dc.descriptionFAPESP: 2017/20809-0-
Descrição: dc.descriptionFAPESP: 2020/04721-8-
Descrição: dc.descriptionDeutscher Akademischer Austauschdienst: 249302-
Idioma: dc.languageen-
Relação: dc.relationJournal of Alloys and Compounds-
???dc.source???: dc.sourceScopus-
Palavras-chave: dc.subjectElectrodeposition-
Palavras-chave: dc.subjectPrussian White-
Palavras-chave: dc.subjectResistive switching-
Título: dc.titleAbnormal resistive switching in electrodeposited Prussian White thin films-
Tipo de arquivo: dc.typelivro digital-
Aparece nas coleções:Repositório Institucional - Unesp

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