New method for self-heating estimation using only DC measurements

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MetadadosDescriçãoIdioma
Autor(es): dc.contributorUniversidade de São Paulo (USP)-
Autor(es): dc.contributorUniversidade Estadual Paulista (Unesp)-
Autor(es): dc.creatorMori, C. A. B.-
Autor(es): dc.creatorAgopian, P. G. D. [UNESP]-
Autor(es): dc.creatorMartino, J. A.-
Autor(es): dc.creatorGamiz, F.-
Autor(es): dc.creatorSverdlov, V-
Autor(es): dc.creatorSampedro, C.-
Autor(es): dc.creatorDonetti, L.-
Data de aceite: dc.date.accessioned2022-02-22T00:54:37Z-
Data de disponibilização: dc.date.available2022-02-22T00:54:37Z-
Data de envio: dc.date.issued2021-06-25-
Data de envio: dc.date.issued2021-06-25-
Data de envio: dc.date.issued2018-01-01-
Fonte completa do material: dc.identifierhttp://hdl.handle.net/11449/208856-
Fonte: dc.identifier.urihttp://educapes.capes.gov.br/handle/11449/208856-
Descrição: dc.descriptionThis paper reports a new method for estimating the thermal resistance of a device using the inverse of the transistor efficiency as a function of the power applied to the transistor's channel. The advantages of this new method are the use of DC measurements only and errors smaller than 4% in the estimation of the channel temperature increase due to the SHE when compared to a pulsed method for the UTBB SOI studied in this work.-
Descrição: dc.descriptionConselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq)-
Descrição: dc.descriptionFundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)-
Descrição: dc.descriptionUniv Sao Paulo, LSI PSI USP, Sao Paulo, Brazil-
Descrição: dc.descriptionSao Paulo State Univ UNESP, Sao Joao Da Boa Vista, Brazil-
Descrição: dc.descriptionSao Paulo State Univ UNESP, Sao Joao Da Boa Vista, Brazil-
Formato: dc.format149-152-
Idioma: dc.languageen-
Publicador: dc.publisherIeee-
Relação: dc.relation2018 Joint International Eurosoi Workshop And International Conference On Ultimate Integration On Silicon (eurosoi-ulis)-
???dc.source???: dc.sourceWeb of Science-
Palavras-chave: dc.subjectSelf-heating effect-
Palavras-chave: dc.subjectSilicon-On-Insulator-
Palavras-chave: dc.subjectUTBB-
Título: dc.titleNew method for self-heating estimation using only DC measurements-
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