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Metadados | Descrição | Idioma |
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Autor(es): dc.contributor | Universidade de São Paulo (USP) | - |
Autor(es): dc.contributor | Universidade Estadual Paulista (Unesp) | - |
Autor(es): dc.creator | Mori, C. A. B. | - |
Autor(es): dc.creator | Agopian, P. G. D. [UNESP] | - |
Autor(es): dc.creator | Martino, J. A. | - |
Autor(es): dc.creator | Gamiz, F. | - |
Autor(es): dc.creator | Sverdlov, V | - |
Autor(es): dc.creator | Sampedro, C. | - |
Autor(es): dc.creator | Donetti, L. | - |
Data de aceite: dc.date.accessioned | 2022-02-22T00:54:37Z | - |
Data de disponibilização: dc.date.available | 2022-02-22T00:54:37Z | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2021-06-25 | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2021-06-25 | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2018-01-01 | - |
Fonte completa do material: dc.identifier | http://hdl.handle.net/11449/208856 | - |
Fonte: dc.identifier.uri | http://educapes.capes.gov.br/handle/11449/208856 | - |
Descrição: dc.description | This paper reports a new method for estimating the thermal resistance of a device using the inverse of the transistor efficiency as a function of the power applied to the transistor's channel. The advantages of this new method are the use of DC measurements only and errors smaller than 4% in the estimation of the channel temperature increase due to the SHE when compared to a pulsed method for the UTBB SOI studied in this work. | - |
Descrição: dc.description | Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq) | - |
Descrição: dc.description | Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) | - |
Descrição: dc.description | Univ Sao Paulo, LSI PSI USP, Sao Paulo, Brazil | - |
Descrição: dc.description | Sao Paulo State Univ UNESP, Sao Joao Da Boa Vista, Brazil | - |
Descrição: dc.description | Sao Paulo State Univ UNESP, Sao Joao Da Boa Vista, Brazil | - |
Formato: dc.format | 149-152 | - |
Idioma: dc.language | en | - |
Publicador: dc.publisher | Ieee | - |
Relação: dc.relation | 2018 Joint International Eurosoi Workshop And International Conference On Ultimate Integration On Silicon (eurosoi-ulis) | - |
???dc.source???: dc.source | Web of Science | - |
Palavras-chave: dc.subject | Self-heating effect | - |
Palavras-chave: dc.subject | Silicon-On-Insulator | - |
Palavras-chave: dc.subject | UTBB | - |
Título: dc.title | New method for self-heating estimation using only DC measurements | - |
Aparece nas coleções: | Repositório Institucional - Unesp |
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