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Metadados | Descrição | Idioma |
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Autor(es): dc.contributor | Universidade de São Paulo (USP) | - |
Autor(es): dc.contributor | Universidade Estadual Paulista (Unesp) | - |
Autor(es): dc.contributor | Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) | - |
Autor(es): dc.creator | Ramos, Caio C. O. | - |
Autor(es): dc.creator | Papa, Joao P. [UNESP] | - |
Autor(es): dc.creator | Souza, Andre N. [UNESP] | - |
Autor(es): dc.creator | Chiachia, Giovani | - |
Autor(es): dc.creator | Falcao, Alexandre X. | - |
Autor(es): dc.creator | IEEE | - |
Data de aceite: dc.date.accessioned | 2022-02-22T00:12:22Z | - |
Data de disponibilização: dc.date.available | 2022-02-22T00:12:22Z | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2020-12-09 | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2020-12-09 | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2011-01-01 | - |
Fonte completa do material: dc.identifier | http://hdl.handle.net/11449/197407 | - |
Fonte: dc.identifier.uri | http://educapes.capes.gov.br/handle/11449/197407 | - |
Descrição: dc.description | Although non-technical losses automatic identif cation has been massively studied, the problem of selecting the most representative features in order to boost the identif cation accuracy has not attracted much attention in this context. In this paper, we focus on this problem applying a novel feature selection algorithm based on Particle Swarm Optimization and Optimum-Path Forest. The results demonstrated that this method can improve the classif cation accuracy of possible frauds up to 49% in some datasets composed by industrial and commercial prof les. | - |
Descrição: dc.description | Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) | - |
Descrição: dc.description | Univ Sao Paulo, Dept Elect Engn, Sao Paulo, Brazil | - |
Descrição: dc.description | Sao Paulo State Univ, UNESP, Dept Comp, Sao Paulo, Brazil | - |
Descrição: dc.description | Sao Paulo State Univ, UNESP, Dept Elect Engn, Sao Paulo, Brazil | - |
Descrição: dc.description | Univ Estadual Campinas, Inst Comp, Sao Paulo, Brazil | - |
Descrição: dc.description | Sao Paulo State Univ, UNESP, Dept Comp, Sao Paulo, Brazil | - |
Descrição: dc.description | Sao Paulo State Univ, UNESP, Dept Elect Engn, Sao Paulo, Brazil | - |
Descrição: dc.description | FAPESP: 2009/16206-1 | - |
Formato: dc.format | 1045-1048 | - |
Idioma: dc.language | en | - |
Publicador: dc.publisher | Ieee | - |
Relação: dc.relation | 2011 Ieee International Symposium On Circuits And Systems (iscas) | - |
???dc.source???: dc.source | Web of Science | - |
Título: dc.title | What is the Importance of Selecting Features for Non-Technical Losses Identif cation? | - |
Aparece nas coleções: | Repositório Institucional - Unesp |
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