InGaP/GaAs(001) structural characterization by means of synchrotron radiation Renninger Scan

Registro completo de metadados
MetadadosDescriçãoIdioma
Autor(es): dc.contributorUniversidade Estadual de Campinas (UNICAMP)-
Autor(es): dc.contributorUniversidade Estadual Paulista (Unesp)-
Autor(es): dc.contributorUniversidade de São Paulo (USP)-
Autor(es): dc.creatorCardoso, Lisandro P.-
Autor(es): dc.creatorMenezes, Alan S. de-
Autor(es): dc.creatorSantos, Adenilson O. dos-
Autor(es): dc.creatorBortoleto, Jose R. [UNESP]-
Autor(es): dc.creatorCotta, Monica A.-
Autor(es): dc.creatorMorelhao, Sergio L.-
Data de aceite: dc.date.accessioned2022-02-22T00:11:50Z-
Data de disponibilização: dc.date.available2022-02-22T00:11:50Z-
Data de envio: dc.date.issued2020-12-09-
Data de envio: dc.date.issued2020-12-09-
Data de envio: dc.date.issued2008-01-01-
Fonte completa do material: dc.identifierhttp://dx.doi.org/10.1107/S0108767308080987-
Fonte completa do material: dc.identifierhttp://hdl.handle.net/11449/197308-
Fonte: dc.identifier.urihttp://educapes.capes.gov.br/handle/11449/197308-
Descrição: dc.descriptionCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)-
Descrição: dc.descriptionConselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq)-
Descrição: dc.descriptionFundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)-
Descrição: dc.descriptionUniv Estadual Campinas, Inst Fis Gleb Wataghin, Dept Fis Aplicada, BR-13083970 Campinas, SP, Brazil-
Descrição: dc.descriptionUNESP, ECA, BR-18087180 Sorocaba, SP, Brazil-
Descrição: dc.descriptionUniv Sao Paulo, Inst Fis, BR-05508090 Sao Paulo, SP, Brazil-
Descrição: dc.descriptionUNESP, ECA, BR-18087180 Sorocaba, SP, Brazil-
Formato: dc.formatC592-C592-
Idioma: dc.languageen-
Publicador: dc.publisherInt Union Crystallography-
Relação: dc.relationActa Crystallographica A-foundation And Advances-
???dc.source???: dc.sourceWeb of Science-
Palavras-chave: dc.subjectsemiconductor epitaxy-
Palavras-chave: dc.subjectX-ray multiple diffraction-
Palavras-chave: dc.subjectstrain determination-
Título: dc.titleInGaP/GaAs(001) structural characterization by means of synchrotron radiation Renninger Scan-
Aparece nas coleções:Repositório Institucional - Unesp

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