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Metadados | Descrição | Idioma |
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Autor(es): dc.contributor | Universidade Estadual Paulista (Unesp) | - |
Autor(es): dc.creator | Barreira, Enzo A. [UNESP] | - |
Autor(es): dc.creator | Pedrini, Luiz F. K. [UNESP] | - |
Autor(es): dc.creator | Boratto, Miguel H. [UNESP] | - |
Autor(es): dc.creator | Scalvi, Luis V. A. [UNESP] | - |
Data de aceite: dc.date.accessioned | 2022-02-22T00:11:39Z | - |
Data de disponibilização: dc.date.available | 2022-02-22T00:11:39Z | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2020-12-09 | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2020-12-09 | - |
Data de envio: dc.date.issued | 2020-07-30 | - |
Fonte completa do material: dc.identifier | http://dx.doi.org/10.1142/S0217979220501842 | - |
Fonte completa do material: dc.identifier | http://hdl.handle.net/11449/197231 | - |
Fonte: dc.identifier.uri | http://educapes.capes.gov.br/handle/11449/197231 | - |
Descrição: dc.description | Tin dioxide (SnO2) thin films are obtained from resistive evaporation of metallic Sn followed by thermal oxidation at different temperatures in the range 200-500 degrees C. Results show that, besides the thickness of the evaporated Sn thin film, the oxidation process of Sn into SnO2 is highly dependent on the annealing time and temperature, presenting tin monoxide (SnO), as an intermediate compound, result of partial oxidation of the metallic Sn at intermediary time and temperature. The optical and electrical properties of the Sn thin films are altered by the oxidation degree of Sn into SnOx. These important characteristics are evaluated through UV-Vis, SEM, EDS, XRD and Impedance Spectroscopy. Increase in the optical bandgap energy as well as in the surface charge density, verified by electrical impedance, are observed on samples with higher annealing temperature and time, which indicate sequential oxidation process in these films. | - |
Descrição: dc.description | Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq) | - |
Descrição: dc.description | Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) | - |
Descrição: dc.description | UNESP Sao Paulo State Univ, Dept Phys FC, Bauru, SP, Brazil | - |
Descrição: dc.description | UNESP POSMAT, Postgrad Program Mat Sci & Technol, Bauru, SP, Brazil | - |
Descrição: dc.description | UNESP Sao Paulo State Univ, Dept Phys FC, Bauru, SP, Brazil | - |
Descrição: dc.description | UNESP POSMAT, Postgrad Program Mat Sci & Technol, Bauru, SP, Brazil | - |
Descrição: dc.description | FAPESP: 2019/00683-7 | - |
Descrição: dc.description | FAPESP: 2013/07296-2 | - |
Descrição: dc.description | FAPESP: 2017/20809-0 | - |
Formato: dc.format | 13 | - |
Idioma: dc.language | en | - |
Publicador: dc.publisher | World Scientific Publ Co Pte Ltd | - |
Relação: dc.relation | International Journal Of Modern Physics B | - |
???dc.source???: dc.source | Web of Science | - |
Palavras-chave: dc.subject | Tin dioxide | - |
Palavras-chave: dc.subject | resistive evaporation | - |
Palavras-chave: dc.subject | oxidation | - |
Palavras-chave: dc.subject | impedance spectroscopy | - |
Título: dc.title | A dynamic time-temperature-dependent process for thermal oxidation of Sn leading to SnOx thin films: Impedance spectroscopy study | - |
Tipo de arquivo: dc.type | livro digital | - |
Aparece nas coleções: | Repositório Institucional - Unesp |
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