Impact of defects on the electrical properties of BiFeO3 thin films

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Autor(es): dc.contributorUniversidade Estadual Paulista (Unesp)-
Autor(es): dc.contributorFed Inst Educ Sci & Technol Sao Paulo-
Autor(es): dc.creatorReis, S. P. [UNESP]-
Autor(es): dc.creatorAraujo, E. B. [UNESP]-
Data de aceite: dc.date.accessioned2022-02-22T00:10:26Z-
Data de disponibilização: dc.date.available2022-02-22T00:10:26Z-
Data de envio: dc.date.issued2020-12-09-
Data de envio: dc.date.issued2020-12-09-
Data de envio: dc.date.issued2020-02-17-
Fonte completa do material: dc.identifierhttp://dx.doi.org/10.1080/00150193.2020.1713344-
Fonte completa do material: dc.identifierhttp://hdl.handle.net/11449/196782-
Fonte: dc.identifier.urihttp://educapes.capes.gov.br/handle/11449/196782-
Descrição: dc.descriptionThe impact of defects on the electrical properties of bismuth ferrite thin films has been studied. Secondary phases and oxygen vacancies were the main defects considered. Thin films with secondary phases show higher conductivities than single-phase films. Monophasic films annealed in oxygen atmosphere shows lower conductivity than the non-annealed film. For selected thin film with secondary phase, the relaxation in the grain boundary was predominant with activation energy eV, suggesting the first ionization oxygen vacancies as the relaxation mechanism in the studied films. The electric field effect on relaxation processes was similarly to Arrhenius thermally activated process.-
Descrição: dc.descriptionFundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)-
Descrição: dc.descriptionConselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq)-
Descrição: dc.descriptionCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)-
Descrição: dc.descriptionSao Paulo State Univ, Dept Phys & Chem, Ilha Solteira, Brazil-
Descrição: dc.descriptionFed Inst Educ Sci & Technol Sao Paulo, Votuporanga, Brazil-
Descrição: dc.descriptionSao Paulo State Univ, Dept Phys & Chem, Ilha Solteira, Brazil-
Descrição: dc.descriptionFAPESP: 2017/13769-1-
Descrição: dc.descriptionCNPq: 304604/2015-1-
Formato: dc.format70-78-
Idioma: dc.languageen-
Publicador: dc.publisherTaylor & Francis Ltd-
Relação: dc.relationFerroelectrics-
???dc.source???: dc.sourceWeb of Science-
Palavras-chave: dc.subjectDefects-
Palavras-chave: dc.subjectbismuth ferrite-
Palavras-chave: dc.subjectthin films-
Título: dc.titleImpact of defects on the electrical properties of BiFeO3 thin films-
Tipo de arquivo: dc.typelivro digital-
Aparece nas coleções:Repositório Institucional - Unesp

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