Simple method to Determine the Permittivity in Substrates Using a NANO VNA (Atena Editora)

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Autor(es): dc.contributor.authorSÁNCHEZ, ISAEL URIEL MADRIGAL-
Autor(es): dc.contributor.authorCORTÉS, JESÚS ORLANDO HERNÁNDEZ-
Autor(es): dc.contributor.authorMIRANDA, ROBERTO LINARES Y-
Data de aceite: dc.date.accessioned2023-03-06T14:40:16Z-
Data de disponibilização: dc.date.available2023-03-06T14:40:16Z-
Data de envio: dc.date.issued2023-02-20-
Fonte: dc.identifier.urihttp://educapes.capes.gov.br/handle/capes/722225-
Resumo: dc.description.abstractEste trabajo se muestra la comparación del NANO VNA con un VNA profesional de laboratorio, para pruebas de dispositivos y componentes de radiofrecuencia (RF) y microondas, con un enfoque a los sustratos de tarjetas de circuitos impresos. Las pruebas se realizaron para tres sustratos: FR4 , TLY5 y RF35 , obteniéndose un mínimo error con ambos VNA, por lo que el uso del NANO VNA es una buena opción para estudiantes y profesionales en el área de la ingeniería de las telecomunicaciones, sobre todo por su costo menor a 200 dólares en comparación con los VNA profesionales de miles de dólares.pt_BR
Idioma: dc.language.isoespt_BR
Palavras-chave: dc.subjectMicrocintapt_BR
Título: dc.titleSimple method to Determine the Permittivity in Substrates Using a NANO VNA (Atena Editora)pt_BR
Tipo de arquivo: dc.typelivro digitalpt_BR
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