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Analysis and measurement of the non-linear refractive index of SiOxNy using pedestal waveguides
Universidade de São Paulo (USP); Universidade Estadual Paulista (Unesp); IPEN CNEN SP; Sao Paulo State Technol Coll FATEC
Sierra, Julian H.; Carvalho, Daniel O. [UNESP]; Samad, Ricardo E.; Rangel, Ricardo C.; Alayo, Marco; IEEE
9-Dez-2020
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