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Navegando por Assunto Elipsometria espectral

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Estudo do efeito da espessura e da temperatura de recozimento nas propriedades ópticas e morfológicas de filmes finos de nitreto de silício
Silva, Ladário da; http://lattes.cnpq.br/3743563498830737; Cruz, Leila Rosa de Oliveira; http://lattes.cnpq.br/0075319046844894; Moreira, Luciano Pessanha; http://lattes.cnpq.br/5673024226638200; http://lattes.cnpq.br/5333046913382185
Kreling, Afonso
8-Nov-2022
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