Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ); Universidade Estadual Paulista (UNESP); Universidade Federal de Ouro Preto; Universidade Federal Fluminense (UFF)
De Souza Alves, Marcelo Ferreira; De Souza, Julio Cesar Eduardo; Tiago, Marcelo Moreira; Higuti, Ricardo Tokio; Teixeira, Marco Antonio Gomes; Mehl, Ana; Pinto, Jose Carlos
Pipa, Daniel Rodrigues; https://orcid.org/0000-0002-9398-332X; http://lattes.cnpq.br/5604517186200940; Guarneri, Giovanni Alfredo; https://orcid.org/0000-0003-2269-2522; http://lattes.cnpq.br/7436484622054922; Pipa, Daniel Rodrigues; https://orcid.org/0000-0002-9398-332X; http://lattes.cnpq.br/5604517186200940; Genari, Heloi Francisco Gentil; http://lattes.cnpq.br/6628778796602150; Silva, Marco Jose da; https://orcid.org/0000-0003-1955-8293; http://lattes.cnpq.br/3660493864159835; Higuti, Ricardo Tokio; https://orcid.org/0000-0003-4201-5617; http://lattes.cnpq.br/6405339510883203; Passarin, Thiago Alberto Rigo; http://lattes.cnpq.br/1366903848418887
Universidade Estadual Paulista (UNESP); Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ); Dep. Electrical Eng.; Consejo Superior de Investigaciones Científicas
Camargo, Gabrielle Ceola; De Souza, Julio Cesar Eduardo; De Souza Alves, Marcelo Ferreira; Tiago, Marcelo Moreira; Elvira, Luis; Higuti, Ricardo Tokio